手动C成像扫查器SCQcscan－1扫查器可以实现带有位置信息反馈的XY两轴自由滑移运动，可以配套带有两编码器接口的超声仪器使用，配合不同探头适用于用于平板类金属、复合材料接触式C成像探伤。
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XY两轴分辨率可选，最高为0.1mm/step。
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根据需要可以选择磁性或者真空吸附的底座以适应不同材料需要。
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该扫查器配合本公司的CTS-1008plus仪器、CTS-04PC超声卡可形成完整的超声成像检测系统。
规格可选配件行程X，Y300×250（mm）耦合液循环模块外形尺寸（长×宽×高）580×480×150重量3.5kg
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