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薄板工件相控阵超声导波检测

对于薄板工件,采用横波斜入射一次波及二次波探伤或者纵波垂直入射探伤等传统的超声波探伤方法是很困难的,而超声导波却非常适合薄板工件的大面积快速检测,超声导波的产生机理是超声波在空间有限的介质内多次往复反射并进一步产生复杂的叠加干涉以及几何弥散形成的。进行导波检测,传统的做法是采用单晶片方式产生一束导波,检测的覆盖范围是一条声束线,通过移动探头实现面积的覆盖,无法同时观测一定面积的扫查图像;或者是采用环状多晶探头,探头全部晶片同时激励产生多束导波,对一定面积范围内进行检测,但该应用主要用于管道检测,同时该检测一般不采用相控阵聚焦的方式。

采用相控阵超声导波检测,利用相控阵独特的聚焦功能及电子扫查功能,是薄板工件快速导波检测的理想手段。

1、CTS-2108PA相控阵仪器导波工艺计算模块

根据检测工件参数,计算导波检测频散曲线并选择合适的探头激励参数。

  • U-V曲线

  • 激励角曲线

  • 群速度曲线

  • 相速度曲线

2、检测灵敏度设置

以工件端面或切割矩形槽为参考体进行设定。

3、单孔检测

4、多孔检测









 
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